講解局部放電測試儀產(chǎn)品使用方法

1、局部放電測試儀開(kāi)機準備

    將“時(shí)基頻率"選擇7置于“50（內）"、“時(shí)基工作方式"5置于“橢圓"。對數線(xiàn)性選擇開(kāi)關(guān) 2置于線(xiàn)性。電源插座33接上220V工頻電源，將電源開(kāi)關(guān)12按到“ON"位置，開(kāi)機預熱5分鐘。

2、儀器校準

參照圖4接好線(xiàn)后，在未加試驗電壓前用JZF型校正脈沖發(fā)生器予以校準。

    注意：校正脈沖發(fā)生器紅端子上的導線(xiàn)盡量短且接在試品的高壓端，黑端子導線(xiàn)接在試品的低壓端。

調節“放大器增益細調"13與“放大器增益粗調"15使注入脈沖高度適當（示波屏上顯示高度2cm以下）；電壓、放電量數字表（3）的示數和線(xiàn)性、對數指針表（1）的示數與注入已知電量相符。

校準完畢后，“放大器增益細調"（13）的旋鈕位置不能再改變，在以后測試中放大器的頻帶也不能改變，必須保持與校正時(shí)相同。

在校準完畢后，加試驗電壓前，一定要斷開(kāi)校正脈沖發(fā)生器與試品的連接線(xiàn)，以防高電壓打壞校正脈沖發(fā)生器。

    下面以圖4為例，介紹一種試驗方法：

    例：用JZF－9或JZF－10型校正脈沖發(fā)生器注入試品兩端的電量為50pC，調節GH-6209局放儀面板粗調旋鈕15，在第三檔調節放大器增益細調旋調13，使其表頭“1"指示為50pC。去掉校正脈沖發(fā)生器，加入試驗電壓，此時(shí)表頭1所指示值即為放電量值的大小，如大于50pC時(shí)應衰減“15"一檔（“15"為放大器增益粗調共分5檔，每檔20dB，10倍的關(guān)系）。

    3、局部放電測試儀測試操作

    接通高壓試驗電路電源，將kV－pC選擇開(kāi)關(guān)4置于“kV",“零標選擇"開(kāi)關(guān)25置于“R"位置，緩緩升高試驗電壓，橢圓上將出現兩個(gè)零標脈沖，零標相位差180°，如試驗電壓超過(guò)高壓電阻R的額定電壓等級，則可在低電壓下將“零標選擇"開(kāi)關(guān)25置于“內"位置，出現由儀器產(chǎn)生的輔助零標脈沖，這時(shí)可以調節旋鈕23，使輔助零標相位與“R"檔時(shí)相符（極性也要一致），則在高壓下不用高壓電阻“R"也可獲得正確的零標位置。

    旋轉“橢圓旋轉"9使橢圓轉到預期的在放電時(shí)能利于觀(guān)察之處，通常這個(gè)位置是零標脈沖分別處于橢園上部左側及下部右側之處。連續升高電壓，注意次出現持續放電，當放電量超過(guò)規定的低值時(shí)的電壓即為局部放電起始電壓。

    測試中常會(huì )發(fā)現有各種干擾出現，可籍“時(shí)間窗"開(kāi)關(guān)18、19、用一個(gè)或兩個(gè)并用電位器17與 20來(lái)改變橢圓上加亮區域的寬度與位置。使其避開(kāi)干擾脈沖。用時(shí)間窗裝置可以分別測量產(chǎn)生于兩個(gè)半波內的放電量。

    4、頻率高于50Hz的局部放電試驗

    當須進(jìn)行高于50Hz的局部放電試驗時(shí)，可將“時(shí)基頻率"選擇7按在相應頻率檔上，從高頻試驗電源中取10V－250V試驗電壓送入插座29上，（轉動(dòng)“高頻電壓"選擇8，使橢圓大小適當即可，）

    當“高頻電壓"選擇8位置不當引起過(guò)載時(shí)，則電源會(huì )自動(dòng)切斷，同時(shí)過(guò)載指示燈6亮，此時(shí)應將“高頻電壓"選擇8順時(shí)針?lè )较蜣D到底，按一下“復位"按鈕11即可恢復啟動(dòng)（過(guò)載指示燈6滅）。示波屏上出現橢圓顯示。

    注意：為保護示波管，試驗電壓輸入“高頻電壓"選擇8所示值之比大于15%時(shí)才有橢園顯示。    

（三）局部放電測試儀附則

    1、放電類(lèi)型和放電源的辨認

    先介紹一下示波屏上的橢圓軌跡，它是順時(shí)針?lè )较蛐D，正零標脈沖表示試驗電壓開(kāi)始由負變向正極性；負零標脈沖則與之相反，兩零標間的中點(diǎn)為試驗電壓的正、負峰值部位。

    從橢圓上的放電圖形辯認放電類(lèi)型以及識別各種干擾是一門(mén)技術(shù)性很強并需有豐富實(shí)踐經(jīng)驗的學(xué)問(wèn)（再結合其他方法予以確認）。CIGRE（大電網(wǎng)會(huì )議）也為須此專(zhuān)門(mén)編了放電圖形識譜的小冊子，它是根據放電圖形中放電位置、移動(dòng)與否，正負半周的放電幅值一致程度以及放電幅值隨試驗電壓及加壓時(shí)間的變化特征來(lái)判斷的，這里只能粗略加以介紹。

    一般來(lái)說(shuō)來(lái)，視為真正的內部氣泡形成的局部放電，其主要特征是放電大多產(chǎn)生在靠近試驗電壓峰值前上升部位的兩半周內。

    （1）典型的內部氣泡局部放電（見(jiàn)圖5），波形特征：a放電主要顯示在試驗電壓由零升到峰值的兩個(gè)橢圓相限內。b在起始電壓 Ui時(shí)放電通常發(fā)生在峰值附近，試驗電壓超過(guò) Ui時(shí)，放電向零位延伸。c兩個(gè)相反半周上放電次數和幅值大致相同（大相差至3：1）。d放電波形可分辨。這里又有幾種情況：1）如果放電幅值隨試驗電壓上升而增大，并且放電波形變得模糊不可分辨，則往往是介質(zhì)內含有多種大小氣泡，或是介質(zhì)表面放電；2）如果除了上述情況，而且放電幅值隨加壓時(shí)間而迅速增長(cháng)（可達100倍或更多），則往往是絕緣液體中的氣泡放電，典型例子是油浸紙電容器的放電。

局部放電測試儀波形圖

                               圖   5

（2）局部放電測試儀金屬與介質(zhì)間氣泡的放電（見(jiàn)圖6  a），波形特征：正半周有很多幅值小的放電，負半周有少數幅值大的放電，幅值相差可達10：1。其它同上，典型例子是絕緣與導體粘附不佳的聚乙烯電纜放電。如果隨試驗電壓升高，放電幅值也增大，而且放電波形變得模糊，則往往中含有不同大小多個(gè)氣泡，或者是外露的金屬與介質(zhì)表面之間出現的放電（見(jiàn)圖6  b）。

局部放電測試儀波形圖

                           圖6    a                        圖6     b

下面討論一些主要視之為干擾或非正常放電的情況。

    （3）局部放電測試儀懸浮電位物體放電（見(jiàn)圖7  a），波形特征：在電壓峰值前的正負半周兩個(gè)象限里出現，幅值、脈沖數和位置均相同，有時(shí)（如圖7  b所示）成對出現，放電可移動(dòng)，但它們間的相互間隔不變，電壓升高時(shí)，根數增加，間隔縮小，但幅值不變，有時(shí)電壓升到一定值時(shí)會(huì )消失，但降至此值又重新出現。原因：金屬間的間隙產(chǎn)生的放電，間隙可能是地面上兩個(gè)獨立的金屬體間也可能在樣品內，例如屏蔽松散。

局部放電測試儀波形圖

                    圖7   a                                  圖7   b

（4）局部放電測試儀外部電暈（見(jiàn)圖8  a），波形特征：起始放電僅出現在試驗電壓的一個(gè)半周上，并對稱(chēng)地分布峰值兩側。試驗電壓升高時(shí)，放電脈沖數急劇增加，但幅值不變，并向兩側伸展（如圖8  b所示）。原因：空氣中高壓或邊緣放電。如果放電出現在負半周，表示處于高壓，如放電出現在正半周則表示處于地電位。

局部放電測試儀波形圖

                      圖8    a                                   圖8    b

（5）液體介質(zhì)中的電暈（圖9  a），波形特征：放電出現在兩個(gè)半周上，對稱(chēng)地分布在電壓峰值兩則。每一組放電均為等間隔，但一組幅值較大的放電先出現，隨試驗電壓升高而幅度增大，不一定等幅值：一組幅值小的放電幅值相等，并且不隨電壓變化（如圖9  b所示）。原因：絕緣液體中或邊緣放電，如一組大的放電出現在正半周，則處于高壓；如它出現在負半周，則處于地電位。

局部放電測試儀波形圖

                  圖9   a                                 圖9   b

（6）接觸不良（圖10），波形特征：對稱(chēng)分布在試驗電壓零點(diǎn)兩側，幅值大致不變，但在試驗電壓峰值附近下降為零，波形粗糙不清晰。低電壓下即出現，電壓增大時(shí)，幅值緩慢增加，有時(shí)在電壓達到一定值后*消失。原因：試驗電路中金屬與金屬不良接觸的連接點(diǎn)；塑料電纜屏蔽層半導體粒子的不良接觸；電容器鋁箔的插接片等（可將電容器充電然后短路來(lái)消除）。

局部放電測試儀接觸不良波形圖

                    圖10

（7）局部放電測試儀可控硅元件（圖11  a），波形特征：位置固定，每只元件產(chǎn)生一個(gè)獨立訊號。電路接通，電磁耦合效應增強時(shí)，訊號幅值增加。試驗調壓時(shí)，該脈沖訊號會(huì )產(chǎn)生高頻波形展寬，從而占位增加（圖11  b），原因：鄰近有可控硅元件在運行。

局部放電測試儀硅元件波形

                   圖11 a                                    圖11 b

（8）局部放電測試儀繼電器、接觸器、輝光管等動(dòng)作（圖12），波形特征：波形不規則或間斷出現， 同試驗電壓無(wú)關(guān)。原因：熱繼電器、接觸器和各種火花試驗器及有火花放電的記錄器動(dòng)作時(shí)產(chǎn)生。

局部放電測試儀繼電器波形

                   圖 12

（9）局部放電測試儀異步電機（圖13），波形特征：正負半周出現對稱(chēng)的兩簇訊號，沿橢園時(shí)基逆向以不變的速度旋轉。原因：異步電機運行訊號耦合到檢測電路中了。

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