講解直流高壓發(fā)生器的3種測量方法

直流高壓發(fā)生器測量時(shí)需要生涯至所需電壓或電流，對一般試品、大容性試品以及小電容試品的測量方法均有所不同，以下是總結的3種測量方法。

1、一般測量時(shí)當接好線(xiàn)后，先把聯(lián)接試品的線(xiàn)懸空，升到試驗電壓后讀取空試時(shí)的電暈和雜散電流I，然后接上試品升到試驗電壓讀取總電流Ⅰ1；試品泄漏電流：Io =Ⅰ1—I’

2、當需要精確測量被試品泄漏電流時(shí)，則應在高壓側串入高壓微安表，如圖1

圖1  高壓屏蔽微安表接入試品Cx側接線(xiàn)圖

高壓屏蔽微安表必須有金屬屏蔽，應采用屏蔽線(xiàn)與試品聯(lián)接。高壓引線(xiàn)的屏蔽引出應與儀表端的屏蔽緊密聯(lián)接。如果試品表面污穢要排除試品表面泄漏電流的影響可在試品高電位端用裸金屬軟線(xiàn)緊密繞幾圈后與高壓引線(xiàn)的屏蔽相聯(lián)接，見(jiàn)圖2。

圖2   排除試品Cx表面影響接線(xiàn)圖

3、對氧化鋅、磁吹避雷器等試品接地端可拆開(kāi)的情況下，也可采用在試品的底部（地電位側），串入電流表進(jìn)行測量的方式。 但也必須使用屏蔽線(xiàn)，如圖3。

圖3     微安表接入試品Cx底部的接線(xiàn)圖

當要排除試品表面泄漏電流的影響，可用軟的裸銅線(xiàn)在試品地電位端繞上幾圈并與屏蔽線(xiàn)的屏蔽相聯(lián)接，如圖4

圖4     排除試品Cx表面影響接線(xiàn)圖

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